惠州泰思肯电镜性能

Leica EM TXP 精研一体机带有一体化体视镜，用于较精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察；使用样品旋转手柄，可以改变样品观察角度，0°一60°可调，或者垂直于样品前表面90°观察，可利用目镜刻度标尺测量距离。一体化自动程序控制，包括自动左右制动机制，前进反馈力控制，倒计数功能等，为使用者节约大量时间。表面处理与目标检测，都通过一体化体视镜来完成，用户不需要专程将样品拿出来再进行表面观察检测，这可提高使用者的工作效率。可适配多种多样工具，从而使样品不经转移就可以进行磨削、切割、钻孔、研磨及抛光。并且整个处理过程都可通过体视镜进行观察监控，节省时间和费用。

深圳市新则兴科技有限公司成立于2004年，专注于代理国外质量的金相制样设备.惠州泰思肯电镜性能

电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。

镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光屏和探测器等部件，这些部件通常是自上而下地装配成一个柱体。

电子透镜用来聚焦电子，是电子显微镜镜筒中蕞重要的部件。一般使用的是磁透镜，有时也有使用静电透镜的。它用一个对称于镜筒轴线的空间电场或磁场使电子轨迹向轴线弯曲形成聚焦，其作用与光学显微镜中的光学透镜(凸透镜)使光束聚焦的作用是一样的，所以称为电子透镜。光学透镜的焦点是固定的，而电子透镜的焦点可以被调节，因此电子显微镜不像光学显微镜那样有可以移动的透镜系统。现代电子显微镜大多采用电磁透镜，由很稳定的直流励磁电流通过带极靴的线圈产生的强磁场使电子聚焦。电子源是一个释放自由电子的阴极，栅极，一个环状加速电子的阳极构成的。阴极和阳极之间的电压差必须非常高，一般在数千伏到3百万伏特之间。它能发射并形成速度均匀的电子束，所以加速电压的稳定度要求不低于万分之一。

样品可以稳定地放在样品架上，此外往往还有可以用来改变样品(如移动、转动、加热、降温、拉长等)的装置。

探测器用来收集电子的信号或次级信号。

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Leica EM RES102多功能离子减薄仪主要技术参数：

>具有2把离子* ，离子束能量为0.8keV-10keV，相对位置，可分别±45°倾斜，样品台倾斜角度-120°至210°，离子束加工角度0°至90°，样品平面摆角度<360°，垂直摆动距离±5mm。实际操作参数根据具体应用需要选择（系统备有参考参数，也可自行设置参数并存储）；>可选配样品台：TEM样品台（Ø3.0mm或Ø2.3mm），FIB样品清洗台，SEM样品台，斜坡切割样品台（对样品35°或90°斜坡切割）等；>SEM样品台可容纳比较大样品尺寸：直径25mm，高度12mm；>全无油真空系统，样品室带有预抽室，保证样品交换时间<1分钟；>全电脑控制，触摸屏操作界面，内置视频观察系统，可实时观察样品处理过程。

透射电子显微镜(Transmission Electron

Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。

深圳市新则兴科技有限公司成立于2004年，自成立以来一直致力于成为客户信赖的实验室整体解决方案提供商。代理国际**品牌实验室仪器设备：法国普锐斯PRESI金相制样设备、德国徕卡显微镜LEICA、苏州慧利HOOL激光干涉仪、日本日立HITACHI超声波扫描显微镜、捷克泰思肯TESCAN扫描电镜等系列产品。产品线囊括金相制样各个步骤所需的设备以及金相耗材 “诚则信，信则兴”的企业理念，以诚信为本，以客户为尊，以产品及服务为桥，建立共赢的合作关系;

 Leica EM TXP 精研一体机是一款多功能机械修块研磨抛光机，适用于对目标定位，进行铣削，切割，冲钻，研磨，修块及抛光等操作。特别适用于对样品微小目标的精细定位、切割等加工。徕卡精研一体机EM TXP标靶面制备系统具有定点修块抛光功能，对样品进行铣削，切割，冲钻，研磨，修块及抛光等操作后，可以用于电子显微镜(TEM-透射电子显微镜和SEM-扫描电子显微镜)、LM (光学显微镜)、共聚焦显微镜和AFM (原子力显微镜)的样品制备和样品检验。

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新则兴成立十五年来一直聚焦于材料分析的细分领域，汇聚行业精英，不断拓宽，加深产品及服务；惠州泰思肯电镜性能

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