惠州X射线衍射仪公司

Analysis Tech的热阻测试仪PHASE-12满足标准：

MIL-STD-750E TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES METHOD 3161.1

JEDEC JESD51-1定义的动态测试方法

JEDEC51-14定义的双界面法Rjc(结到壳热阻)测试

MIL-STD-883定义的Rjc测试。

IEC60747-9 INTERNATIONAL STANDARD

深圳市泰斯特尔系统科技有限公司自主开发了绝缘电阻（SIR）测试系统、导通电阻测试系统、接触电阻测试系统、互联应力（IST）测试系统、耐电流温控测试仪等标准化产品，并开发了蓄电池故障模拟系统、外热流真空模拟测试系统、汽车静态刚性和四门两盖测试系统，燃料电池电堆测试系统等非标测试系统，填补了国内相关领域多项空白。 云纹干涉热变形形貌测量仪公司找泰斯特尔。惠州X射线衍射仪公司

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局部离子清洁度测试仪的技术特点：

1.测试精细

2.准确定位

3.更容易分析问题来源

局部离子清洁度测试仪主要应用于：PCB/PCBA 南山区帕纳科X射线衍射仪多少钱ANATECH热导率测试仪厂家找泰斯特尔，泰斯特尔自主研发多种测试系统，填补了国内相关领域多项空白。

热导率，又称“导热系数”。是物质导热能力的量度。符号为λ或K。

英文：coefficient of thermal conductivity

是指当温度垂直向下梯度为1℃/m时，单位时间内通过单位水平截面积所传递的热量。

其具体定义为：在物体内部垂直于导热方向取两个相距1米，面积为1平方米的平行平面，若两个平面的温度相差1K，则在1秒内从一个平面传导至另一个平面的热量就规定为该物质的热导率，其单位为瓦特·米-1·开-1（W·m-1·K-1）。

如没有热能损失，对于一个对边平行的块形材料，则有

E/t=λA（θ2-θ1）/ι

式中E是在时间t内所传递的能量，A为截面积，ι为长度，θ2和θ1分别为两个截面的温度。在一般情况下有：

dE/dt=-λAdθ/dι

在材料研究中，科学家有许多与材料样品的结晶组成有关的分析问题。X射线衍射(XRD)是***可揭示结构信息的实验室技术，例如化学成分、晶体结构、微晶尺寸、应变、推荐取向和层厚度。因此，材料研究人员使用XRD分析从粉末和固体到薄膜和纳米材料的各种材料。

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深圳市泰斯特尔系统科技有限公司专注于实验室设备的设计、制造、贸易和服务。

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在公司发展过程中，我们代理了可靠性和失效分析领域相关设备，如热分析仪器、热变形形貌测量仪（云纹干涉）、扫描电镜、C3测试仪、离子浓度/污染测试仪、超声波扫描显微镜、X-RAY、热阻、开封机等分析仪器和设备。

经过不断努力，我们的产品已经得到国内具有影响力的企业的***认可，如工业和信息化部电子第五研究所（中国赛宝实验室）、深圳华为技术有限公司、格力电器、美的集团、龙旗电子、国家印制电路板质量监督检验中心、广州兴森快捷电路科技有限公司、红板（江西）有限公司、广东依顿电子科技股份有限公司、广东世运电路科技股份有限公司等等。

面临着“智能制造”浪潮的洗礼，深圳市泰斯特尔系统科技有限公司将不断破浪前行，为中国制造业的转型升级，贡献出自己的力量！

深圳市泰斯特尔系统科技有限公司专注于实验室设备的设计、制造、贸易和服务。广州帕纳科X射线衍射仪

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热阻测试仪的技术参数：

1.结温测试分辨率：0.007℃；

2.测量电流IM：1mA，5mA，10mA，20mA，50mA，电流精度优于±2%；

3.可同时测试不低于8颗样品的K曲线；

小采样间隔：1us；

5.电压测量：采用开尔文接触法，电压测量分辨率1毫伏。

6.系统具备三个T型热电偶放大器，在测试Rja参数的同时可获得Rjl等热阻参数；

7.测试和分析结果包括：器件结温、器件壳温、瞬态温度响应曲线、热阻抗曲线、冷却曲线、积分结构函数、微分结构函数、RC网络；

8.在测试过程仪器具备实时监测加热功率P，结温Tj，结电压Vj，瞬态热阻，以及加热电源加热电流和检测电流等参数的功能 惠州X射线衍射仪公司

深圳市泰斯特尔系统科技有限公司致力于仪器仪表，是一家生产型的公司。泰斯特尔系统科技致力于为客户提供良好的电阻测试系统，多通道数据采集系统，互联应力测试系统，耐电流温控测试仪，一切以用户需求为中心，深受广大客户的欢迎。公司将不断增强企业重点竞争力，努力学习行业知识，遵守行业规范，植根于仪器仪表行业的发展。泰斯特尔系统科技凭借创新的产品、专业的服务、众多的成功案例积累起来的声誉和口碑，让企业发展再上新高。